مشخصات کلی

 

طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس

XRF

  • مدل : XD-8010
  •  سازنده: Ewai 
  • کشور سازنده: چین

طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( X-ray Fluorescence Spectroscopy ) مدل XD-8010 محصول شرکت Ewai کشور چین می باشد. محصولات طیف سنج فلوئورسانس اشعه ایکس XRF از روش های آنالیز عنصری استفاده می کند که بدلیل سرعت بالای آنالیز در بعضی از صنایع دارای اهمیت است. در محصولات طیف سنج فلوئورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010، اشعه ایکس به نمونه می تابد و در اثر برانگیختن اتم ها و انتقال الکترونی در لایه های مختلف اتم، اشعه ایکس ثانویه، تولید می شود که با تعیین طول موج (انرژی) اشعه ایکس ثانویه که مشخصه اتم است؛ می توان عناصر موجود در نمونه مورد نظر را شناسایی کرد. با استفاده از محصولات طیف سنج فلوئورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010، می توان آنالیز عنصری را به ‌صورت کیفی و تا حدودی کمی به خصوص در مورد نمونه های معدنی، باستانی، زمین‌شناسی، کانی‌ها، سنگ‌ها، شیشه، سیمان، سرامیک‌ها و آلیاژهای فلزی انجام داد که رد یابی عناصر از سدیم تا اورانیوم را ممکن می سازد که دقت آن برای عناصر سنگین بیشتر است. 

فروش محصولات فلورسانس اشعه ایکس XRF شرکت Ewai با بهترین کیفیت و خدمات پس از فروش توسط شرکت مهرگان پرتوشار صورت می گیرد. همچنین کلیه خدمات فنی و مهندسی مرتبط با محصولات فلورسانس اشعه ایکس XRF توسط متخصصین شرکت مهرگان پرتوشار ارائه می شود.

معرفی محصول

روش طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF به دلیل سرعت بالا، دقت زیاد و استقلال از وابستگی به شخص آنالیز کننده، جایگزین مناسبی برای سایر روش های آنالیز شیمیایی در شناسایی مواد است. سرعت بالای آنالیز برای تنظیم ترکیب؛ و قرار گرفتن عنصرهای موجود در نمونه در گستره ی کوچک و مشخص، استفاده از روش طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF را سودمند کرده است. زیرا محدود بودن عناصر موجود در نمونه مجهول و گستره تغییر آنها، باعث می شود که بتوان از منحنی های کالیبراسیون با اطمینان بیشتری استفاده کرد. روش طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF به ‌عنوان مکمل مطالعات کانی‌ شناسی و متالوگرافی در بررسی‌های باستان‌شناسی و حفاظت از آثار استفاده می شود. در لایه های نازک، رابطه میان شدت، ترکیب و ضخامت از قوانین تئوری محاسبه شده اند که از روش طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF می توان برای تعیین دقیق ترکیب و ضخامت لایه ی نازک استفاده کرد.

محصولات طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XD-8010با استفاده از منبع اشعه ایکس منحصر به فرد، تحریک ساختار نمونه، سیستم تشخیص، غنی سازی اتوماتیک، سیستم سیم پیچ اتوماتیک و سایر فن آوری های اصلی به تجزیه و تحلیل نمونه پرداخته و نتایج حاصل را به صورت گزارش های مناسب و قابل اطمینان ارائه می دهد.

ویژگی ها

ویژگی های دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010

  • سه نوع مختلف سیستم های ایمنی تابش پرتو ایکس، مکانیزم ارتباطات نرم افزاری، اتصالات سخت افزاری و مکانیکی، نشتی تابش را تحت هر شرایطی به طور کامل برطرف می کند.
  • محصولات طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010 دارای یک مسیر نوری منحصربفرد طراحی شده است که فاصله بین منبع اشعه ایکس، نمونه و آشکارساز را در حالی که انعطاف پذیری لازم برای تغییر بین انواع فیلترها و کالیاتورها را حفظ می کند، کاهش می دهد. این امر به طور قابل توجهی حساسیت طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF را بهبود می بخشد و محدودیت تشخیص را کاهش می دهد.
  • محفظه نمونه با حجم زیاد به نمونه های بزرگ در محصولات طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF اجازه می دهد که بدون آسیب یا آماده سازی قبل از آزمایش به طور مستقیم مورد تجزیه و تحلیل قرار گیرد.
  • در آنالیز یک دکمه ای (one-button) تجزیه و تحلیل با استفاده از یک رابط نرم افزار بصری و مناسب به سادگی صورت می گیرد و نیازی به آموزش های حرفه ای برای کار با دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF نیست.
  • محصولات طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010 تجزیه و تحلیل سریع عناصر از S به U را با زمان تجزیه و تحلیل قابل تنظیم فراهم می کند.
  • فیلترها با ضخامت و مواد مختلف و همچنین کولیماتورها از Φ1 mm تا Φ7 mm موجود هستند و تا 15 ترکیب از فیلترها و کولیماتورها در دسترس می باشد.
  • گزارش های تولید شده را می توان در فرمت های PDF و اکسل ذخیره کرد. داده های بدست آمده از تجزیه و تحلیل به صورت خودکار پس از هر تجزیه و تحلیل ذخیره می شود. داده های تاریخی و آمار را   می توان در هر زمان از یک رابط جست و جو ساده مشاهده کرد.
  • با استفاده از دوربین نمونه دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010، شما می توانید موقعیت نمونه را نسبت به تمرکز منبع اشعه ایکس مشاهده کنید. تصاویر نمونه زمانی گرفته می شود که تجزیه و تحلیل آغاز شده و می تواند در گزارش تجزیه و تحلیل نمایش داده شود.
  • ابزار مقایسه طیف نرم افزار در طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010 برای تجزیه و تحلیل کیفی و شناسایی و مقایسه مواد مفید است.
  • با استفاده از روش های اثبات شده و موثر تجزیه و تحلیل کیفی و کمی، دقت نتایج می تواند قابل اطمینان باشد.
  • قابلیت تناسب منحنی کالیبراسیون باز و انعطاف پذیر برای انواع برنامه های کاربردی مانند تشخیص مواد مضر، مفید است.

کاربردها

کاربردهای دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010

  • بهبود حساسیت تشخیص فلزات سنگین در ذرات هوا توسط طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF  
  • تجزیه سریع سطح پایین و متوسط سرب، آرسنیک و غیره در هوا
  • تشخیص فلزات سنگین، در حالی که مانیتورینگ اتوماتیک طولانی مدت بدون سرنشین قابل دستیابی است.
  • فن آوری تست غیرمخرب پیشرفته طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF و ترکیب تکنولوژی غنی سازی ذرات جامد با استفاده از استاندارد ایالات متحده EPA IO-3.3

دانلودها

طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010

دانلود کاتالوگ

طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل XD-8010

دانلود کاتالوگ

محصولات مرتبط

ارسال نظر
عنوان نظر :
نام شما :
ایمیل :
10 / 10
از 1 کاربر