مشخصه
|
توضیحات
|
اصول اسپکتروفتومتر UV-Vis کارکرده
|
Double beam, double monochromator, ratio recording UV/Vis spectrophotometer with microcomputer electronics, controlled by DELL™ PC or compatible personal computer.
|
سیستم نوری اسپکتروفتومتر UV-Vis دست دوم
|
All reflecting optical system (SiO2 coated) with holographic grating monochromator with 1440 lines/mm UV/Vis blazed at 240 nm, Littrow mounting, sample thickness compensated detector optics.
|
سیستم بیم اسپلیتر اسپکتروفتومتر UV-Vis دست دو
|
Chopper (46+ Hz, Cycle: Dark/Sample/Dark/Reference, Chopper Segment Signal Correction).
|
دتکتور اسپکتروفتومتر UV-Vis استوک
|
Photomultiplier R6872 for high energy in the whole UV/Vis wavelength range.
|
منبع اسپکتروفتومتر UV-Vis ریفربیش
|
Pre-aligned tungsten-halogen and deuterium.
|
محدوده طول موج ا اسپکترومتر UV-Vis کارکرده
|
175 nm - 900 nm
|
رزولوشن اسپکترومتر UV-Vis دست دوم
|
≤ 0.05 nm
|
نورهای سرگردان اسپکترومتر UV-Vis دست دو
|
At 200 nm (12 g/l KCl USP/DAP method) > 2 A
At 220 nm (10 g/l NaI ASTM method) ≤ 0.00007 %T
At 340 nm (50 mg/l NaNO2 ASTM method) ≤ 0.00007 %T
At 370 nm (50 mg/l NaNO2 ASTM method) ≤ 0.00007 %T
|
دقت طول موج اسپکترومتر UV-Vis استوک
|
± 0.080 nm
|
تکرار پذیری طول موج اسپکترومتر مرئی - فرابنفش دست دوم
|
Deuterium lamp lines ≤ 0.020 nm
Standard deviation of 10 measurements ≤ 0.005 nm
|
دقت فتومتریک اسپکترومتر UV-Vis ریفربیش
|
Double Aperture Method 1 A ± 0.0006 A
Double Aperture Method 0.5 A ± 0.0003 A
NIST 1930D Filters 2 A ± 0.0030 A
NIST 930D Filters 1 A ± 0.0030 A
NIST 930D Filters 0.5 A ± 0.0020 A
K2Cr2O7-Solution USP/DAP method ± 0.0100 A
|
خطی کردن فتومتریک اسپکتروسکوپی UV-Vis کارکرده
|
Addition of filters UV/Vis at 546.1 nm, 2 nm slit, 1 second integration time
At 1.0 A ± 0.006 A
At 2.0 A ± 0.017 A
At 3.0 A ± 0.020 A
|
تکرار پذیری فتومتریک اسپکتروسکوپی UV-Vis دست دوم
|
A with NIST 930D Filter at 546.1 nm Standard deviation for 10 measurements ≤ 0.00016 A
0.5 A with NIST 930D Filter at 546.1 nm Standard deviation for 10 measurements ≤ 0.00008 A
0.3 A with NIST 930D Filter at 546.1 nm Standard deviation for 10 measurements 2 nm slit, 1 second integration time ≤ 0.00008 A
|
محدوده فتومتریک اسپکتروسکوپی UV-Vis دست دو
|
8 A
|
نمایش فتومتریک اسپکتروسکوپی UV-Vis استوک
|
Unlimited
|
پهنای باند اسپکتروسکوپی UV-Vis ریفربیش
|
0.05 nm - 5.00 nm in 0.01 nm increments. Fixed resolution, constant energy or slit programming.
|
پایداری فتومتریک طیف سنجی UV-Vis کارکرده
|
After warm-up at 500 nm, 0 A, 2 nm slit, 2 second integration time, peak to peak ≤ 0.0002 A/h
|
مسطح بودن بیس لاینطیف سنجی UV-Vis دست دوم
|
190-860 nm, 2 nm slit, 2 second integration time, no smoothing applied ± 0.0008 A
|
نویز فتومتریک طیف سنجی UV-Vis دست دو
|
0 A and 190 nm ≤ 0.00010 A
0 A and 500 nm ≤ 0.00005 A
2 A and 500 nm ≤ 0.00020 A
4 A and 500 nm ≤ 0.00100 A
6 A and 500 nm ≤ 0.00500 A
|
ابعاد محفظه اولیه نمونه طیف سنجی UV-Vis استوک
(W x D x H)
|
200 mm x 300 mm x 220 mm
|
ابعاد محفظه ثانویه نمونه طیف سنجی UV-Vis ریفربیش
(W x D x H)
|
480 mm x 300 mm x 220 mm
|
وزن اسپکتروفتومتر مرئی - فرابنفش کارکرده
|
77 kg
|
ابعاد اسپکتروفتومتر مرئی - فرابنفش دست دوم
|
1020 mm x 740 mm x 300 mm
|