میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی Field Emission Scanning Electron Microscope مدل JSM-7900F از برترین و بهترین محصولات میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM شرکت Jeol است. شرکت Jeol با هدف تسهیل تحقیقات و پیشرفت های تکنولوژیکی برای نسل های آینده این محصول را طراحی کرده اند. میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F ، با تصویربرداری با وضوح تصویر فوق العاده بالا، آنالیز وضوح تصویر مکانی فوق العاده و کارایی بالاتر و همچنین عملکرد چند منظوره را ترکیب می کند. میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F نسل جدید، بهترین قابلیت اطمینان داده را با سهولت عملیات فوق العاده ارائه می دهد.
قابلیت جدید به دست آمده از سیستم کنترل لنز و تکنولوژی اتوماتیک، "Neo Engine" یک ویژگی میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F را دارا می باشد. با وجود اینکه وضعیت نوری الکترون تغییر می کند، تغییر ناپذیری در هماهنگی پرتو وجود دارد، که اجازه تصویر برداری سریع و آسان در هر ولتاژ شتاب دهنده و جریان پروب را می دهد. این سیستم نمونه برتر از تکنولوژی پیشرفته الکترونی توسط شرکت Jeol می باشد.
ویژگی های میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل JSM-7900F
- سیستم In-lens Schottky Plus FEG در میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل JSM-7900F
میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F با بهره گیری از لنز Schottky به همراه تفنگ انتشار میدانی (FEG) با ترکیب تفنگ الکترونی و لنز کندانسور با انحراف کم شفافیت تصویر را بهبود می بخشد. الکترون هایی که توسط تفنگ الکترونی میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F تولید می شوند می توانند به طور موثر متمرکز شوند و جریان های پروب را به ترتیب از چند پیکو آمپر به چند ده نانو آمپر حتی در ولتاژ های شتاب دهنده پایین فعال کنند.
- لنز سوپر هیبرید SHL در میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل JSM-7900F
لنز شیئی میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F سوپر هیبرید (SHL) است که شامل میدان مغناطیسی الکترواستاتیک است که با میدان الکتریکی الکترواستاتیک همپوشانی دارد. کاهش وضوح کروماتیک و کروی، به خصوص در ولتاژ شتاب کم باعث بهبود رزولوشن می شود. SHL اثرات میدان مغناطیسی را بر روی نمونه اعمال نمی کند، بنابراین مشاهدات مواد مغناطیسی و تجزیه و تحلیل EBSD می تواند بدون مشکل در میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM مدل JSM-7900F انجام شود.
- سیستم GBSH در میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F
GBSH باعث افزایش رزولوشن در ولتاژ شتاب پایین می شود. GBSH-S جدید توسعه یافته ولتاژ تعویض تا 5 کیلوولت را به استیج نمونه اعمال می کند.
- سیستم آشکارساز در میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل JSM-7900F
میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F قادر است بطور همزمان سیگنال تا حداکثر چهار آشکارساز را دریافت نماید. میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F همراه با LED (آشکارساز الکترون پایین تر) و UED (آشکارساز الکترون های بالا: آشکارساز لنز) می آید. علاوه بر این، USD (آشکارساز الکترون ثانویه) آپشن و RBED (آشکارساز الکترون بازگشتی) می تواند گنجانده شود.
- آشکارساز الکترون بازگشتی جدید در میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM مدل JSM-7900F
حسگر فوق العاده حساس الکترونی بازگشتی میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی Field Emission Scanning Electron Microscope مدل JSM-7900F با طراحی جدید نسبت سیگنال به نویز را برای مواد با کنتراست کم BSE بهبود می بخشد. به طور خاص، کنتراست یک تصویر ترکیب شده به طور قابل توجهی در ولتاژ شتاب پایین افزایش می یابد.
- لنز کنترل زاویه دیافراگم (ACL) در میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FESEM مدل JSM-7900F
لنز کنترل زاویه دیافراگم (ACL) میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F که در بالای لنز شیئی قرار دارد، به طور خودکار زاویه دیافراگم لنز شیئی را در تمام محدوده جریانی بهینه می کند. حتی زمانی که جریان پروب افزایش می یابد، ACL موجب انتشار الکترون های تصادفی می شود تا همیشه کوچکترین پروب را حفظ کند. ACL همچنین زاویه دیافراگم را برای تغییرات زیادی از جریان پروب کنترل می کند و عملیات SEM را فعال می کند.
- عملکرد خلاء کم در میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F
عملکرد خلاء کم میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F اجازه می دهد تا مشاهده و تجزیه و تحلیل ساده بدون پوشش رسانا انجام شود. بنابراین، میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F رزولوشن بالا را در خلاء کم حفظ می کند.
سیستم تعویض نمونه جدید در میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM مدل JSM-7900F
یک سیستم تعویض نمونه جدید در میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F استفاده می شود. سیستم جدید میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F با استفاده از عملیات هدایت شده انتقال نمونه را ساده و نرمتر انجام می دهد.
میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F امکان اندازه گیری عرض خط اتوماتیک (مترولوژی) را با استفاده از کنتراست تصاویر SEM فراهم می کند.
SMILENAVI در میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F
SMILENAVI برای مبتدیان طراحی شده است تا بتوانند عملیات اساسی SEM را صحیح انجام دهند. هنگامی که اپراتور بر روی یک آیکون براساس نمودار SMILENAVI کلیک می کند، صفحه نمایش SEM GUI برای هدایت اپراتور به راهنما متصل می شود.
کاربردهای میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
مشاهدات با وضوح فضایی بالا در میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
- تصویر نانو مواد اکسیدی در میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
- تصویر نانوذرات فلزی در میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
- تمایز سیگنال - قابلیتی که توسط انواع آشکارسازها به دست می آید .
تصویر مواد فلزی در میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
تصویر مواد استیل میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
عملکرد خلاء کم میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
غذا
عملکرد خلاء کم میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F با قابلیت مشاهده در بزرگنمایی زیاد
- تصویر شیشه در میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F دارای وضوح فضایی بالا حتی در خلاء کم است. این تصاویر نشان می دهد که پرکننده های معدنی موجود در یک فیلم ارگانیک بر روی شیشه به وضوح مشاهده می شود.
عملکرد بهبود یافته میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
- پلت فرم جدید میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
طراحی بیرونی جدید میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7900F ، بدون هیچ کنسول عملیاتی، بطور قابل توجهی باعث کاهش اندازه میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F می شود. بنابراین، میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F قابل نصب در محیط های مختلف می باشد.
- سیستم تبادل نمونه جدید میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
یک سیستم تبادل نمونه جدید در میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F برای تبادل ساده نمونه ، افزایش کارایی و دوام بیشتر به کار رفته است.
- سیستم SMILENAVI در میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
SMILENAVI یک سیستم جهت یابی عملیاتی است که برای مبتدیان طراحی شده است تا بتواند عملیات اولیه SEM را درک کند.
عملکرد اتوماتیک گسترش یافته میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
- تصویر مواد معدنی در میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
- تصویر مواد نرم در میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7900F
