میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 با ستون اپتیکال الکترونی Gemini 1 تصویربرداری و تجزیه و تحلیل با وضوح بالا را در وسیع ترین طیف کاربردها برای انواع نمونه ها ارائه می دهد. میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 ابزاری ایده آل است که حداکثر قابلیت انعطاف پذیری را برای علم مواد، علوم زیستی و صنعت فراهم می کند. طراحی اپتیکال الکترونی Gemini 1 میکروسکوپ FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 تصاویری از سطوح با حساسیت و رزولوشن بالا ایجاد می کند که حتی قادر است وضوح عالی را در ولتاژ پایین و سرعت زیاد در جریان پروب بالا برای کاربر به ارمغان آورد. میکروسکپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 با استفاده همزمان از تصویربرداری الکترون های بازگشتی و لنزهای الکترونی ثانویه، قادر است اطلاعاتی را درباره سطح و ترکیبات نمونه های حساس را در رزولوشن بالا، جمع آوری کند. میکروسکپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 با استفاده از میدان دید گسترده و محفظه جدید با قابلیت تنظیم بسیار زیاد ، تصویربرداری از نمونه های بسیار بزرگ نیز آسان است. میکروسکپ FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 با استفاده از عملکردهای خودکار نظیر فوکوس اتوماتیک و دتکتورهای هوشمند، به راحتی تصاویر با رزولوشن بالایی را ثبت نمایید. میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 با استفاده از دو دتکتور منحصر به فرد Inlens که به طور موازی پیکربندی شده اند ، قادر است خصوصیات جامع نمونه را نمایان کند.
میکروسکوپ الکترونی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 از نرم افزار ZEISS ZEN استفاده می کند که قابلیت ارتقاء سیستم را افزایش می دهد. همچنین میکروسکوپ FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 از ZEN Connect برای ترکیب داده های چند حالته و چند مقیاس ، ZEN Intellesis برای تقسیم بندی پیشرفته مجهز به هوش مصنوعی و ماژول های تحلیلی ZEN برای گزارش و تجزیه و تحلیل داده ها استفاده می کند. ذخیره سازی داده ها در نرم افزار ZEISS ZEN به کاربر این امکان را می دهد تا با اتصال داده ها از ابزارهای مختلف موجود در آزمایشگاه، پروژه ها را به طور متمرکز مدیریت کند.
اپتیک Gemini 1 میکروسکپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 با سه جزء اصلی مشخص می شود:
- در طراحی لنزهای شیئی Gemini 1 میکروسکپ الکترونی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 میدان های الکترواستاتیک و مغناطیسی برای به حداکثر رساندن عملکرد نوری در حالی که تأثیرات میدانی در نمونه به حداقل می رسد ، ترکیب شده است. این امر، امکان تصویربرداری عالی ، حتی در نمونه های چالش برانگیز مانند مواد مغناطیسی را نیز فراهم می کند.
- فناوری تقویت کننده پرتوی Gemini 1 میکروسکپ FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 ، کاهش سرعت پرتو یکپارچه ، اندازه های کوچک پروب و نسبت های زیاد سیگنال به نویز را تضمین می کند.
- مفهوم تشخیص Gemini Inlens میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 با دتکتورهای الکترون های ثانویه (SE) و بازگشتی (BSE) به طور موازی و به حداقل رساندن زمان برای تصویر برداری و تشخیص سیگنال کارآمد را تضمین می کند.
اپتیک Gemini 1 میکروسکپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 پایداری طولانی مدت تری از SEM را به همراه دارد و تنظیم همه پارامترهای سیستم مانند جریان پروب و ولتاژ شتاب را آسان تر می کند. همچنین با کمک اپتیک های بدون میدان مغناطیسی ، تصویربرداری بدون اعوجاج و وضوح بالاتری را بدست آورید. اپتیک Gemini 1 میکروسکپ الکترونی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 اطلاعات بالاترین لایه از نمونه را با استفاده از دتکتور Inlens SE که تصاویر تولید شده را از الکترون های SE 1 که واقعاً حساس به سطح هستند، دریافت می کند. همچنین با استفاده از دتکتور Inlens EsB اپتیک Gemini میکروسکپ FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 ، کنتراست واقعی مواد را در ولتاژهای بسیار کم بدست آورید.
فروش میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
ویژگی های میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانیFE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360
- قابلیت استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 در طیف وسیعی از کاربردها
- میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 مجهز به اپتیک Gemini 1
- میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 با رزولوشن بالا در کیلوولت های پایین، قابل استفاده در صنعت
- انعطاف پذیری بالای میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 در پذیرش نمونه
فروش میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
کاربردهای میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 در علوم نانو و نانومواد
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 در مهندسی مواد
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 در کاتالیست ها، پلیمرها و بایو مواد
- استفاده از میکروسکپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 در طراحی تجهیزات نیمه هادی و آنالیز شکست
- استفاده از میکروسکپ الکترونی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 در علوم زیستی
فروش میکروسکپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
مشخصات فنی میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360
|
مشخصه
|
توضیحات
|
|
رزولوشن میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM
|
0.6 nm @ 30 kV (STEM)
0.7 nm @ 15 Kv
1.0 nm @ 1 kV TD
1.2 nm @ 1kV
|
|
رزولوشن تحلیلی میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM
|
-
|
|
رزولوشن Inlens BSE میکروسکوپ الکترونی FE-SEM
|
1.2 nm @ 1 kV
|
|
رزولوشن در NanoVP mode (30 Pa)
|
1.4 nm @ 3 kV
1.0 nm @ 15 kV
|
|
ولتاژ شتاب دهنده میکروسکپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM
|
-
|
|
جریان پروب میکروسکپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM
|
3 pA - 20 nA
(100 nA configuration also available)
|
|
حداکثر میدان دید در مود با رزولوشن بالا میکروسکپ FE-SEM
|
5 mm at 5 kV and WD = 8.5 mm
|
|
حداکثر میدان دید در حالت نمای کلی میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM
|
-
|
|
بزرگنمایی میکروسکوپ الکترونی FE-SEM
|
8 – 2,000,000
|
|
دتکتورهای میکروسکوپ FE-SEM
|
Inlens SE Detector (Inlens secondary electron)
Chamber SE Detector
|
فروش میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل ZEISS GeminiSEM 360 ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.