آنالیز فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400 از دتکتور SSD بهره می برد که بتازگی توسعه یافته است. اینsilicon drift detector آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400 حساسیت بالا و اندازه گیری های با توان عملیاتی بالایی را ارائه می دهد. آشکارساز جدید آنالیز کننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400 با افزایش کارایی کوانتوم در منطقه با انرژی بالا ، سبب ایجاد حساسیت بالا ، اندازه گیری با توان بالا از باند های انرژی Cd Kα ، Pd Kα و Ba Kα می شود.
طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400 رزولوشن بالا و میزان شمارش بالایی را ارائه می دهد. آنالیز فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA1400 به لطف بهره گیری از دتکتور SSD می تواند عناصر کمیاب را با رزولوشن بالاتر شناسایی کند. همچنین استفاده از این دتکتور سبب افزایش میزان شمارش آنالایزر فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA1400 شده که عملکرد استثنایی را در کاربردهای کنترل کیفیت مواد فلزی و سایر مواد به همراه دارد.
آنالیز کننده فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA1400 با استفاده از سیستم خلاء و دتکتور SSD جدید خود، حساسیت بالایی در شناسایی عناصر سبک دارد و کارایی آن تا حد زیادی بهبود یافته است.
فروش آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400 ساخت شرکت Hitachi کشور ژاپن توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
ویژگی های آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400
- حساسیت و توان عملیاتی بالای آنالیز فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA1400
- رزولوشن و نرخ شمارش بالاتر آنالایزر فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA1400
- سیستم خلاء و دتکتور SSD آنالیز کننده فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA1400
فروش آنالیز کننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400 ساخت شرکت Hitachi کشور ژاپن توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
کاربرد آنالیزکننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400
- آنالیز XRF مدل EA1400 در زمینه های مختلفی از کنترل RoHS تا شناسایی طیف گسترده ای از مواد و مناطق کاربرد دارد.
- از طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA1400 برای اندازه گیری Cd در فلز برنج استفاده می شود که در مقایسه با سایر محصولات آنالیز XRF توان عملیاتی آن بیش از دو برابر بهبود یافته است.
- شرایط فرآیند ذوب با استفاده از اطلاعات اجزای اصلی سرباره کنترل می شود. از دیگر کاربردهای آنالایزر XRF مدل EA1400 می توان به کنترل فرآیند ذوب نظیر اندازه گیری سریع و دقیق عناصر اصلی در سرباره اشاره کرد. با استفاده از آنالیز کننده XRF مدل EA1400 می توان عناصری نظیر Si, Ca, Alو Mgرا با دقت و به راحتی شناسایی کرد.
- با استفاده از سیستم تابش مورب اشعه ایکس ، اندازه گیری نمونه هایی با سطح ناهموار یا نامنظم و آلودگی های چسبیده به ماده پایه کار دشواری است. طیف سنج XRF مدل EA1400 ، مجهز به تابش اشعه ایکس و مکانیسم مشاهده نمونه بوده که امکان تشخیص و شناسایی عناصر منشا آلودگی را فراهم می کند.
- از طیف سنجی XRF مدل EA1400 در کنترل کیفیت جهت تشخیص مواد خارجی چسبیده شده استفاده می شود.
فروش طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400 ساخت شرکت Hitachi کشور ژاپن توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
مشخصات فنی طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400
|
مشخصه
|
توضیحات
|
|
عناصر قابل اندازه گیری توسط آنالایزر XRF
|
Na (11) ～U (92)
|
|
محیط آنالیزکننده XRF
|
Normal atmosphere (Al～U)
Vacuum (Na～U) *Optional
|
|
جهت اشعه ایکس آنالیز کننده XRF
|
X-Ray Vertical Irradiation (Coaxial Sample Observation)
|
|
منبع اشعه ایکس طیف سنج XRF
|
Small Air-cooled x-ray tube (Rh target)
|
|
دتکتور طیف سنجی XRF
|
Newly developed Silicon Drift Detector (SDD)
|
|
ناحیه اندازه گیری آنالیز فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
1,3,5 mmφ
|
|
فیلتر آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
5 filters automatic switching
|
|
ابعاد محفظه نمونه آنالیز کننده فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
304(W)×304(D)×110(H)mm
|
|
وزن طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
69 kg
|
|
برق مصرفی طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
AC100～240V (50/60Hz)/190VA
|
|
تعویض کننده نمونه آنالیزکننده فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
Compatible (12samples) *Optional
|
فروش طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA1400 ساخت شرکت Hitachi کشور ژاپن توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.