مشخصات کلی

 

دستگاه سیستم تست I-V-L

  • مدل : M6100
  •  سازنده: McScience 
  • کشور سازنده: کره جنوبی

دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 یک تستر OLED ساخت شرکت McScience و کشور کره جنوبی است. این سیستم قابلیت تست ولتاژ جریان (I-V) را داراست، علاوه بر این دارای تستر الکترولومینساس نیز می باشد. این دستگاه تست I-V-L برای سلول واحد، پنل و ماژول قابل استفاده است. تست بازده و طیف سنجی و رنگ سنجی نیز با این دستگاه امکان پذیر است.

 

مشخصات فنی

سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED

نام لاتین و مدل سیستم

OLED I-V-L Test System M6100

پیکربندی سیستم

نور سنج، دستگاه الکتریکی، واحد نمونه گذاری، اتاق تاریک، دوربین CCD

ابعاد دستگاه

1150*600*1450 میلی متر

نور سنج

PR-655 SpectraScan Spectroradiometer

  • با 128 ردیف  آشکارساز
  • طول موج 380 تا 780 نانومتر
  • رزولوشن دیجیتال: 16 بیت
  • دقت طیف:  1± نانومتر
  • پهنای باند طیف: 8 نانومتر رزولوشن طیف: 12/3 نانومتر/پیکسل

 

SR-3A Spectroradiometer

  • دقت و سرعت اندازه گیری بالا
  • روشنایی
  • رنگ سنجی و نور سنجی مساحتهای کوچک بدون استفاده از لنز

 

CS-2000 Spectroradiometer

  • اندازه گیری بسیار دقیق
  •  ±2% در روشنایی cd/cm2003/0
  • خطای قطبیدگی پایین
  • زاویه ی اندازه گیری قابل تنظیم

دستگاه الکتریکی

Keithley 2635B System Source Measure Unit

  • گستره ی دینامیک وسیع: 20 فمتو آمپر تا 5/1 آمپر، 200 میلی ولت تا 200 ولت، 3/30 وات
  • گستره­ی جریان و ولتاژ متنوع
  • انطباق جریان
  • Bias source

Keithley 2400 General-Purpose Source Measure Unit

  • گستره ی دینامیک وسیع: 1 میکروآمپر تا 1 آمپر، 200 میلی ولت تا 200 ولت، 20 وات
  • گستره­ی جریان و ولتاژ متنوع
  • انطباق جریان
  • Bias source

واحد نمونه گذاری

  • جایگیری نمونه در بالا و پایین
  • اتصال pogo pin
  • دو پرابه
  • اتصال الکتریکی با برد پرینت شده

معرفی محصول

دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED

دستگاه سیستم تست I-V-L  قابلیت تست ولتاژ - جریان (I-V)  را داراست، علاوه بر این دارای تستر الکترولومینساس نیز می­باشد. دستگاه سیستم تست I-V-L  تست I-V-L برای سلول واحد، پنل و ماژول قابل استفاده است. تست بازده و طیف سنجی و رنگ سنجی نیز با این دستگاه امکان پذیر است.

دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED 

پیکربندی سیستم

 دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED

اجزای سیستم

 دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED

 
دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED

 
دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED

SR-3A Spectroradiometer

PR-655 SpectraScan Spectroradiometer

CS-2000 Spectroradiometer

  • دقت و سرعت اندازه گیری بالا
  • روشنایی
  • رنگ سنجی و نور سنجی مساحت های کوچک بدون استفاده از لنز

 

  • با 128 ردیف  آشکارساز
  • طول موج 380 تا 780 نانومتر
  • رزولوشن دیجیتال: 16 بیت
  • دقت طیف:  1± نانومتر
  • پهنای باند طیف: 8 نانومتر رزولوشن طیف: 12/3 نانومتر/پیکسل

 

  • اندازه گیری بسیار دقیق
  •   ±2% در روشنایی cd/cm2003/0
  • خطای قطبیدگی پایین
  •  زاویه ی اندازه گیری قابل تنظیم

 

 دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED  دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED  دستگاه سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED

Keithley 2400 General-Purpose Source Measure Unit

Keithley 2635B System Source Measure Unit

Jig Unit

  • گستره ی دینامیک وسیع: 1 میکروآمپر تا 1 آمپر، 200 میلی ولت تا 200 ولت، 20 وات
  • گستره­ی جریان و ولتاژ متنوع
  • انطباق جریان
  •  Bias source
  • گستره ی دینامیک وسیع: 20 فمتو آمپر تا 5/1 آمپر، 200 میلی ولت تا 200 ولت، 3/30 وات
  • گستره­ی جریان و ولتاژ متنوع
  • انطباق جریان
  •  Bias source
  • جایگیری نمونه در بالا و پایین
  • اتصال pogo pin
  • دو پرابه
  • اتصال الکتریکی با برد پرینت شده

 

 مشخصات سیستم

سیستم تست I-V-L مدل M6100 برای تست OLED

نام لاتین و مدل سیستم

OLED I-V-L Test System M6100

پیکربندی سیستم

نور سنج، دستگاه الکتریکی، واحد نمونه گذاری، اتاق تاریک، دوربین CCD

ابعاد دستگاه

1150*600*1450 میلی متر

نور سنج

PR-655 SpectraScan Spectroradiometer

  • با 128 ردیف  آشکارساز
  • طول موج 380 تا 780 نانومتر
  • رزولوشن دیجیتال: 16 بیت
  • دقت طیف:  1± نانومتر
  • پهنای باند طیف: 8 نانومتر رزولوشن طیف: 12/3 نانومتر/پیکسل

 

SR-3A Spectroradiometer

  • دقت و سرعت اندازه گیری بالا
  • روشنایی
  • رنگ سنجی و نور سنجی مساحتهای کوچک بدون استفاده از لنز

 

CS-2000 Spectroradiometer

  • اندازه گیری بسیار دقیق
  •  ±2% در روشنایی cd/cm2003/0
  • خطای قطبیدگی پایین
  • زاویه ی اندازه گیری قابل تنظیم

دستگاه الکتریکی

Keithley 2635B System Source Measure Unit

  • گستره ی دینامیک وسیع: 20 فمتو آمپر تا 5/1 آمپر، 200 میلی ولت تا 200 ولت، 3/30 وات
  • گستره­ی جریان و ولتاژ متنوع
  • انطباق جریان
  • Bias source

Keithley 2400 General-Purpose Source Measure Unit

  • گستره ی دینامیک وسیع: 1 میکروآمپر تا 1 آمپر، 200 میلی ولت تا 200 ولت، 20 وات
  • گستره­ی جریان و ولتاژ متنوع
  • انطباق جریان
  • Bias source

واحد نمونه گذاری

  • جایگیری نمونه در بالا و پایین
  • اتصال pogo pin
  • دو پرابه
  • اتصال الکتریکی با برد پرینت شده

دانلودها

دستگاه سیستم تست I-V-L دانلود کاتالوگ

محصولات مرتبط

ارسال نظر
عنوان نظر :
نام شما :
ایمیل :
10 / 10
از 1 کاربر