مشخصه
|
توضیحات
|
مونوکروماتور اسپکتروفتومتر UV-Vis
|
Double out-of-plane Littrow monochromator
|
گریتینگ اسپکترومتر UV-Vis
UV-Vis
NIR
|
70 x 45 mm
Ruled line diffraction grating, 1200 lines/mm blazed at 250 nm
Ruled line diffraction grating, 300 lines/mm blazed at 1192 nm
|
سیستم بیم اسپلیتر اسپکتروسکوپی UV-Vis
|
Rotating beam splitter, which measures a sample, dark and reference signal per cycle with a speed of 30 Hz
|
دتکتورهای طیف سنجی UV-Vis
UV-Vis
NIR
|
R928 PMT
Cooled PbSmart PbS
|
محدودیت رزولوشن طیف سنج UV-Vis
UV-Vis
NIR
|
<0.048 nm
<0.2 nm
|
نورهای پراکنده اسپکتروفتومتر UV-Visible
At 220 nm (10 g/L NaI ASTM method)
At 370 nm (50 mg/L NaNO2)
At 1420 nm (H2O, 1 cm pathlength)
At 2365 nm (CHCl3, 1 cm pathlength)
|
<0.00007%
<0.00007%
<0.0002%
<0.00045%
|
محدوده طول موج اسپکترومتر UV-Visible
|
175–3300 nm
|
دقت طول موج اسپکتروسکوپی UV-Visible
UV-Vis: 190–900 nm
NIR: 760–3000 nm
|
± 0.08 nm
± 0.4 nm
|
تکرارپذیری طول موج طیف سنجی UV-Visible
Peak separation of repetitive scanning of a UV-Vis line source
Peak separation of repetitive scanning of an IR line source
Standard deviation of 10 measurements, UV-Vis
Standard deviation of 10 measurements, NIR
|
<0.025 nm
<0.1 nm
<0.005 nm
<0.02 nm
|
دقت فتومتریک طیف سنج UV-Visible
Using double aperture method at 0.3 Abs UV-Vis
|
<0.00025 Abs
|
خطی بودن فتومتریک اسپکتروفتومتر UV-Vis
All tests performed by addition of fi lters technique UV-Vis (465 nm, 10 s SAT, 2 nm SBW), NIR (1200 nm, 10 s SAT, energy 3)
|
UV-Vis, at 1 Abs <0.0007 Abs
UV-Vis, at 2 Abs <0.0014 Abs
UV-Vis, at 3 Abs <0.005 Abs
NIR, at 1 Abs <0.0015 Abs
NIR, at 2 Abs <0.007 Abs
|
محدوده فتومتریک اسپکترومتر UV-Vis
|
10 Abs
|
تکرارپذیری فتومتریک اسپکتروسکوپی UV-Vis
Using NIST 930D fi lters, at 546.1 nm, 2 s SAT, 2 nm SBW
0.5 Abs, Standard deviation for 10 measurements
1.0 Abs, Standard deviation for 10 measurements
|
<0.00008
<0.00014
|
پایداری فتومتریک طیف سنجی UV-Vis
After 2 hr warm up, 500 nm, 1 s SAT, 2 nm SBW
|
<0.00018
|
نویز فتومتریک طیف سنج UV-Vis
UV-Vis (190 nm, 1 s SAT, 2 nm SBW)
At 0 Abs
At 1 Abs
UV-Vis (500 nm, 1 s SAT, 2 nm SBW)
At 0 Abs
At 1 Abs
At 2 Abs
At 3 Abs with 1.5 Abs RBA
At 4 Abs with 1.5 Abs RBA
At 5 Abs with 1.5 Abs RBA
At 6 Abs with 3.0 Abs RBA
NIR: Fixed SBW (1500 nm, 1 s SAT, 2 nm SBW)
At 0 Abs
At 1 Abs
At 2 Abs
At 3 Abs
NIR: Variable SBW (1500 nm, 1 s SAT, Energy 1)
At 0 Abs
At 2 Abs
At 3 Abs with 1.5 Abs RBA
|
<0.0009
<0.0002
<0.00003
<0.00005
<0.0001
<0.0003
<0.0008
<0.002
<0.0045
<0.00003
<0.0001
<0.0005
<0.007
<0.00004
<0.0005
<0.0003
|
خطی بودن بیس لاین اسپکتروفتومتر UV-Visible
UV-Vis (0.1 s SAT, 4 nm SBW), NIR (0.2 s SAT, Energy 1), baseline corrected
UV-Vis (0.2 s SAT, 2 nm SBW), NIR (0.24 s SAT, Energy 1), no smoothing applied
|
± 0.0012 (200 to 3000 nm)
± 0.0007 (200 to 3000 nm)
|
محفظه نمونه اسپکترومتر UV-Visible
|
160 x 433 x 221 mm
|
ابعاد اسپکتروسکوپی UV-Visible
(width x depth x height)
|
1020 x 710 x 378 mm
|
وزن طیف سنجی UV-Visible
|
91 kg
|
پهنای باند طیفی طیف سنج UV-Visible
UV-Vis
NIR
|
0.01–5.00 nm, 0.01 nm steps
0.04–20 nm
|
میانگین سیگنال اسپکتروفتومتر UV-Vis
|
0.033–999 s
|
حداکثر نرخ اسکن اسپکترومتر UV-Vis
UV-Vis
NIR
|
2000 nm/min
8000 nm/min
|
نرخ Slewاسپکتروسکوپی UV-Vis
UV-Vis
NIR
|
16000 nm/min
64000 nm/min
|