مشخصات کلی

میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM

  • مدل : JSM-7610F
  • سازنده : Jeol 

میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی Field Emission Scanning Electron Microscope مدل JSM-7610F یک میکروسکوپ الکترونی روبشی با انتشار میدانی Schottky با رزولوشن بالا می باشد که دارای لنزهای شیئی semi-in-lens است. اپتیک های با قدرتمند میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7610F می توانند بازده و آنالیز با عملکرد بالا را ارائه دهند. همچنین میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7610F برای تجزیه و تحلیل تفکیک فضایی بالا ایده آل است. علاوه بر این، حالت پرتو آرام می تواند نفوذ الکترون را به نمونه کاهش دهد و کاربران می توانند با استفاده از چند صد انرژی فرودی، بالاترین سطح آن را مشاهده کنند.

معرفی محصول

تصویربرداری با وضوح بالا و آنالیز با عملکرد بالا توسط لنز شیئی semi-in-lens میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7610F

میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7610F ترکیبی از دو تکنولوژی اثبات شده - یک ستون الکترونی با لنزهای semi-in-lens است که می تواند تصویربرداری با وضوح بالا با ولتاژ شتاب دهنده پایین و یک لنز Schottky FEG را ارائه دهد که می تواند جریان پروب پایدار بزرگ را فراهم کند – محدوده وسیعی از جریان پروب را برای تمام برنامه های کاربردی (چند پیکو آمپر تا بیش از 200 نانوآمپر) فراهم می کند. لنز Schottky FEG ترکیبی از FOT Schottky و اولین لنز کندانسور است و برای جمع آوری الکترون ها از منتشر کننده به طور موثر طراحی شده است.

بالاترین سطح تصویربرداری در ولتاژ شتاب دهنده پایین با حالت پرتو آرام (GB)

حالت پرتو آرام (GB) میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی Field Emission Scanning Electron Microscope مدل JSM-7610F یک ولتاژ منفی را به یک نمونه اعمال می کند و الکترون های تصادفی را قبل از اینکه به نمونه تابش کند را کاهش می دهد، بنابراین وضوح تصاویر در ولتاژ شتاب بسیار پایین در میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7610F بهبود یافته خواهد شد.

بنابراین، میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7610F مشاهده بالاترین سطح را با چند صد الکترون ولت که ممکن است برای مشاهده نمونه های معمول و نارسانا مثل سرامیک و نیمه هادی و غیره دشوار باشد را امکان پذیر می سازد.

بازده بالا و آنالیز با عملکرد بالا توسط اپتیک های قدرتمند میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7610F

اپتیک های قدرتمند میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی Field Emission Scanning Electron Microscope مدل JSM-7610F پروب الکترونی را برای مشاهدات و آنالیز تولید می کند. لنز کنترل کننده زاویه دیافراگم حتی در یک جریان پروب بزرگتر، قطر پروب کوچک را حفظ می کند. با استفاده از هر دو تکنیک، میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7610F برای طیف گسترده ای از آنالیزها با EDS، WDS، CL و غیره مناسب است.

ویژگی ها

ویژگی های میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل JSM-7610F

  • تصاویر با کیفیت تصویر بالا توسط لنزهای شیئی semi-in-lens میکروسکوپ الکترونی روبشی FESEM مدل JSM-7610F

میکروسکوپ الکترونی FESEM

 

  • آنالیز با وضوح فضایی بالا توسط لنزهای شیئی semi-in-lens میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی Field Emission Scanning Electron Microscope مدل JSM-7610F

میکروسکوپ الکترونی FESEM

 

  • بالاترین سطح تصویربرداری در انرژی فوق العاده پایین فرود توسط حالت پرتو آرام (GB)

میکروسکوپ الکترونی FESEM

مشخصات فنی

مشخصات فنی میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7610F

مشخصه

توضیح

رزولوشن تصویربرداری الکترون ثانویه میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

1.0 nm (15 kV), 1.5 nm ( 1 kV, GB mode) During analysis 3.0 nm (15 kV、 WD 8mm、 probe current 5 nA)

بزرگنمایی میکروسکوپ الکترون روبشی FESEM

×25 to ×19,000 (LM mode)

×130 to ×1,000,000 (SEM mode)

ولتاژ شتاب دهنده میکروسکپ الکترونی روبشی SEM

0.01 kV to 30 kV

جریان پروب میکروسکپ الکترونی روبشی FE-SEM

A few pA to 200 nA

تفنگ الکترونی میکروسکوپ الکترون روبشی SEM

In-lens Schottky field-emission gun

سیستم لنز میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM

Condenser lens Semi-in-lens objective lens Aperture angle control lens (ACL)

آشکارساز میکروسکوپ الکترونی روبشی FESEM

Upper detector (SED)、 Lower detector (LDD)

فیلتر انرژی میکروسکپ الکترونی روبشی SEM

r-filter (Built-in)

حالت پرتو آرام میکروسکوپ الکترون روبشی SEM

Built-in

محفظه نمونه میکروسکپ الکترون روبشی SEM

Maximum specimen size 200 mm diameter

استیج نمونه میکروسکوپ الکترون روبشی SEM

Full eucentric goniometer stage, Computer-controlled 5-axis (X, Y, R, T, Z) motor dive (with backlash correction)

X

Y

WD (Z)

Tilt

Rotation

70 mm

50 mm

1 mm to 40 mm

-5 to +70°

360°

تعویض نمونه میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM

Load lock chamber, single-touch chucking

نگهدارنده نمونه میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

For 12.5 mm diameter × 10 mm thick, For 32 mm diameter × 20 mm thick

سیستم کنترل SEM

PC     IBM PC/AT compatible

OS     Windows ®7 Professional

LCD مشاهده تصویر میکروسکوپ الکترونی روبشی FESEM

Screen size     23-inch, Maximum resolution, 1280 × 1024 pixels

حالت های اسکن و نمایش میکروسکپ الکترون روبشی SEM

Full-frame scan, direct magnification, reduced-area scan, CF scan, HD scan, 2-segment display (different magnification, different image), 2-segment wide display 4-segment display (simultaneous 4 signal live display), addition image (4 images + addition image) Scale

عملکرد خودکار میکروسکپ الکترون روبشی SEM

Focus、 Astigmatic、 Brightness、 Contrast

دانلودها

دانلود کاتالوگ میکروسکوپ الکترونی روبشی دانلود کاتالوگ
دانلود کاتالوگ میکروسکوپ الکترونی روبشی دانلود کاتالوگ میکروسکوپ الکترونی روبشی

محصولات مرتبط

ارسال نظر
عنوان نظر :
نام شما :
ایمیل :
10 / 10
از 1 کاربر