هنگام استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300VP نمونه در طول اندازه گیری درون خلاء باقی می ماند و در یک گردش کار معمول ، نمونه ابتدا با SEM تصویربرداری می شود. سپس در مرحله بعد، به طور خودکار به موقعیت هدف Raman برای تصویربرداری Raman منتقل می شود. طیف سنجی رامان تکنیکی قدرتمند برای شناسایی تاثیر شیمیایی روی مواد معدنی و آلی است. همچنین می تواند برای اندازه گیری فشار و تنش ، چند شکلی و جهت گیری کریستالی ، doping و تبلور استفاده شود. بنابراین اطلاعات تکمیلی را به سایر روش های تحلیلی که معمولاً در یک SEM استفاده می شود ، مانند EDS ، می رساند.
میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300VP را با توجه به نیازهای دقیق خود با استفاده از آشکارسازهای ساخته شده با آخرین فناوری، تنظیم کنید. با استفاده از میکروسکپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300VP می توان اطلاعاتی را درباره توپوگرافی ، ترکیب و ساختار کریستالوگرافی نمونه استخراج کرد تا تمام مشخصات و ویژگی های نمونه مشخص شود. دتکتور بازگشتی حلقوی (aBSD) میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM مدل Sigma 300VP عملکرد تصویربرداری را گسترش داده و اطلاعات توپوگرافی و ترکیب را در یک آشکارساز بدست می آورد.
از جمله مزایای دتکتور annular backscatter detector (aBSD) میکروسکپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM مدل Sigma 300VP می توان به بهبود حساسیت ، افزایش نسبت سیگنال به نویز و سرعت بیشتر برای دستیابی به تصویر با استفاده از الکترون های بازگشتی (BSE) اشاره نمود. نسل جدیدی از دتکتورهای الکترون ثانویه (SE) مورد استفاده در میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300VP ، تصاویر با کنتراست و وضوح بالا را ارائه می دهند. میکروسکپ الکترونی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300VP با استفاده از دتکتورهای VPSE و C2D با کار در خلاء کم ، می توانید تصاویر واضح با کنتراست بیشتری را تولید نماید. خودکارسازی و سرعت بخشیدن به گردش کار با استفاده از یک گردش کار 4 مرحله ای به کاربر این امکان را می دهد تا تمام قابلیت های میکروسکوپ الکترونی انتشار میدانی FESEM مدل Sigma 300VP خود را کنترل کند. در نتیجه در زمان تصویربرداری و زمان آموزش به خصوص در یک محیط چند کاربره صرفه جویی می شود.
میکروسکوپ الکترونی FESEM مدل Sigma 300VP امکان تجزیه و تحلیل سریع و کامل اشعه ایکس را ارائه می دهد. قرارگیری آشکارساز در میکروسکپ الکترونی FESEM مدل Sigma 300VP نزدیک به نمونه می توان به یک آنالیز بدون سایه دست یافت. کاربر می تواند بر روی تشخیص کامل و کارآمد، رزولوشن عالی و سهولت در استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP حساب کند.
طراحی لنز شیئی Gemini در میکروسکپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP ترکیبی از میدان های الکترواستاتیک و مغناطیسی را برای به حداکثر رساندن عملکرد نوری به همراه دارد و این در حالی است که کاهش تاثیرات میدان در نمونه به حداقل رسیده است. این امر، تصویربرداری عالی را حتی در نمونه های چالش انگیز مانند مواد مغناطیسی فراهم می کند. همچنین اپتیک Gemini میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP ، تشخیص سیگنال کارآمد را با تشخیص الکترون های ثانویه (SE) و یا Backscattered (BSE) تضمین می کند.
همچنین دتکتور INLENS میکروسکپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP در محور نوری بگونه ای تنظیم شده است که نیاز به تنظیم مجدد را کاهش می دهد و بنابراین زمان دست یابی به تصویر را به حداقل می رساند. فناوری تقویت کننده Beam Gemini میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM مدل Sigma 300VP اندازه های کوچک پروب و نسبت های بالا سیگنال به نویز را تضمین می کند. همچنین حساسیت سیستم را به میدان های خارجی با نگه داشتن پرتو در ولتاژ بالا در سراسر ستون تا کاهش نهایی آن، کاهش می دهد.
با استفاده از دتکتور Inlens و ETSE می توان اطلاعات توپوگرافی را با رزولوشن بالا، بدست آورد. همچنین با استفاده از میکروسکپ الکترونی روبشی FE-SEM مدل Sigma 300VP می توان با VPSE و یا آشکارساز C2D در حالت فشار متغیر، تصاویر واضحی را بدست آورد. با استفاده از دتکتور ASTEM میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300VP می توان تصاویر انتقال با وضوح بالا را تولید کرد و همچنین با استفاده از آشکارساز ABS ترکیب و توپوگرافی را بررسی نمود.
سیستم رامان میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP در محفظه SEM وجود دارد اما هیچ تاثیری بر عملکرد آن ندارد و تداخلی در آن ایجاد نمی کند.
میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP نمونه را با فاصله کمی از رامان Raman به SEM منتقل می کند. از میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300VP می توان برای بررسی نمونه های حساس به هوا استفاده کرد زیرا گردش کار توسط این ابزار به طور کامل در خلاء انجام می شود. در نهایت SmartSEM Touch میکروسکپ الکترونی انتشار میدانی FESEM مدل Sigma 300VP امکان جمع آوری و ارائه داده ها را بصورت یک نقشه تعاملی فراهم می کند و می توان با استفاده از آن به درک کاملی از نمونه و ویژگی های آن رسید.
فروش میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
ویژگی های میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP
- میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP یک میکروسکوپ FE-SEM مجهز به طیف سنج رامان Raman
- میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP از انعطاف پذیری بالایی جهت استفاده از انواع مختلف دتکتورها برای دست یابی به تصویری واضح و شفاف برخوردار است.
- میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300VP گردش کار را اتوماتیک و سریع تر می کند.
- میکروسکوپ FE-SEM مدل Sigma 300VP نمونه را با فاصله کمی از رامان Raman به SEM منتقل می کند.
فروش میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300VP ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
کاربردهای میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP در تحقیقات علم مواد
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی انتشار میدانی FE-SEM مدل Sigma 300VP در علوم زیستی
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300VP در مطالعات زمین شناسی و معدن
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM مدل Sigma 300VP در مطالعات منابع طبیعی
- استفاده از میکروسکوپ FE-SEM مدل Sigma 300VP در کاربردهای صنعتی
فروش میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM مدل Sigma 300VP ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
مشخصات فنی میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300VP
|
مشخصه
|
توضیحات
|
|
منبع الکترون میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM
|
Schottky Thermal Field Emitter
|
|
رزولوشن میکروسکوپ الکترونی FE-SEM
|
1.0 nm at 30 kV (STEM)
1.0 nm at 15 Kv
1.6 nm at 1 kV
2.0 nm at 30 kV (VP Mode)
|
|
دتکتور بازگشتی (BSD)میکروسکوپ FE-SEM
|
aBSD / HDBSD
|
|
حداکثر سرعت اسکن میکروسکپ الکترونی روبشی FE-SEM
|
50 ns/pixel
|
|
ولتاژ شتاب دهنده میکروسکپ الکترونی FE-SEM
|
0.02 – 30 kV
|
|
بزرگ نمایی میکروسکپ FE-SEM
|
10× – 1,000,000×
|
|
جریان پروب میکروسکوپ الکترونی روبشی FESEM
|
3 pA - 20 nA (100 nA optional)
|
|
ابعاد تصویر میکروسکوپ الکترونی FESEM
|
32 k × 24 k pixels
|
|
پورت های میکروسکوپ FESEM
|
10
|
|
پورت های EDS میکروسکپ الکترونی روبشی FESEM
|
2 (1 dedicated port)
|
|
خلاء بالای میکروسکپ الکترونی FESEM
|
Yes
|
|
فشار متغیر میکروسکپ FESEM
|
10-133 Pa
|
|
نوع استیج میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM
|
5 axis comp centric stage
|
|
میزان حرکت بر روی استیج میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM
|
X= 125 mm
Y= 125 mm
Z= 50 mm
T= -10 to +90 degrees
R= 360° Continuous
|
|
دتکتور میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM
|
Inlens SE Detector
ETSE Detector
|
|
پیکربندی RISE میکروسکپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM
|
Raman confocal microscope set-up (532 nm with 75 mW or 30 mW laser)
Adapter flange, CCD and software for navigation, laser safety interlock for laser class 1M
|
|
آپشن های پیکربندی RISE میکروسکپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM
|
CCD camera upgrade Back-illuminated CCD
Spectrometer upgrade Broadband spectrometer
Premium upgrade Optimized detection system (2 spectrometers and back-illuminated deep depletion CCD)
Additional lasers 478 nm with 75 mW, 633 nm with 35 mW, 785 nm with 120 mW
Database management software and spectral database
|
فروش میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300VP ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.