میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300 را با توجه به نیازهای دقیق خود با استفاده از آشکارسازهای ساخته شده با آخرین فناوری، تنظیم کنید. با استفاده از میکروسکپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300 می توان اطلاعاتی را درباره توپوگرافی ، ترکیب و ساختار کریستالوگرافی نمونه استخراج کرد تا تمام مشخصات و ویژگی های نمونه مشخص شود. دتکتور بازگشتی حلقوی (aBSD) میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM مدل Sigma 300 عملکرد تصویربرداری را گسترش داده و اطلاعات توپوگرافی و ترکیب را در یک آشکارساز بدست می آورد.
از جمله مزایای دتکتور annular backscatter detector (aBSD) میکروسکپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM مدل Sigma 300 می توان به بهبود حساسیت ، افزایش نسبت سیگنال به نویز و سرعت بیشتر برای دستیابی به تصویر با استفاده از الکترون های بازگشتی (BSE) اشاره نمود. نسل جدیدی از دتکتورهای الکترون ثانویه (SE) مورد استفاده در میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300 ، تصاویر با کنتراست و وضوح بالا را ارائه می دهند. میکروسکپ الکترونی نشر میدانی FESEM مدل Sigma 300 با استفاده از دتکتورهای VPSE و C2D با کار در خلاء کم ، می توانید تصاویر واضح با کنتراست بیشتری را تولید نماید. خودکارسازی و سرعت بخشیدن به گردش کار با استفاده از یک گردش کار 4 مرحله ای به کاربر این امکان را می دهد تا تمام قابلیت های میکروسکوپ الکترونی انتشار میدانی FESEM مدل Sigma 300 خود را کنترل کند. در نتیجه در زمان تصویربرداری و زمان آموزش به خصوص در یک محیط چند کاربره صرفه جویی می شود.
میکروسکوپ الکترونی FESEM مدل Sigma 300 امکان تجزیه و تحلیل سریع و کامل اشعه ایکس را ارائه می دهد. قرارگیری آشکارساز در میکروسکپ الکترونی FESEM مدل Sigma 300 نزدیک به نمونه می توان به یک آنالیز بدون سایه دست یافت. کاربر می تواند بر روی تشخیص کامل و کارآمد، رزولوشن عالی و سهولت در استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300 حساب کند.
طراحی لنز شیئی Gemini در میکروسکپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300 ترکیبی از میدان های الکترواستاتیک و مغناطیسی را برای به حداکثر رساندن عملکرد نوری به همراه دارد و این در حالی است که کاهش تاثیرات میدان در نمونه به حداقل رسیده است. این امر، تصویربرداری عالی را حتی در نمونه های چالش انگیز مانند مواد مغناطیسی فراهم می کند. همچنین اپتیک Gemini میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل Sigma 300 ، تشخیص سیگنال کارآمد را با تشخیص الکترون های ثانویه (SE) و یا Backscattered (BSE) تضمین می کند. همچنین دتکتور INLENS میکروسکپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل Sigma 300 در محور نوری بگونه ای تنظیم شده است که نیاز به تنظیم مجدد را کاهش می دهد و بنابراین زمان دست یابی به تصویر را به حداقل می رساند. فناوری تقویت کننده Beam Gemini میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM مدل Sigma 300 اندازه های کوچک پروب و نسبت های بالا سیگنال به نویز را تضمین می کند. همچنین حساسیت سیستم را به میدان های خارجی با نگه داشتن پرتو در ولتاژ بالا در سراسر ستون تا کاهش نهایی آن، کاهش می دهد.
با استفاده از دتکتور Inlens و ETSE می توان اطلاعات توپوگرافی را با رزولوشن بالا، بدست آورد. همچنین با استفاده از میکروسکپ الکترونی روبشی FE-SEM مدل Sigma 300 می توان با VPSE و یا آشکارساز C2D در حالت فشار متغیر، تصاویر واضحی را بدست آورد. با استفاده از دتکتور ASTEM میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300 می توان تصاویر انتقال با وضوح بالا را تولید کرد و همچنین با استفاده از آشکارساز ABS ترکیب و توپوگرافی را بررسی نمود.
در نهایت SmartSEM Touch میکروسکپ الکترونی انتشار میدانی FESEM مدل Sigma 300 امکان جمع آوری و ارائه داده ها را بصورت یک نقشه تعاملی فراهم می کند و می توان با استفاده از آن به درک کاملی از نمونه و ویژگی های آن رسید.
فروش میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300 ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
ویژگی های میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300
- میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300 یک میکروسکوپ FE-SEM همه کاره و مقرون به صرفه
- میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300 از انعطاف پذیری بالایی جهت استفاده از انواع مختلف دتکتورها برای دست یابی به تصویری واضح و شفاف برخوردار است.
- میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300 گردش کار را اتوماتیک و سریع تر می کند.
- میکروسکوپ FE-SEM مدل Sigma 300 به دلیل فاصله کاری کمتر ، امکان دریافت تصاویر نمونه بدون سایه را دارا می باشد.
فروش میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300 ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
کاربردهای میکروسکوپ الکترونی نشر میدانی FE-SEM مدل Sigma 300
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل Sigma 300 در تحقیقات علم مواد
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی انتشار میدانی FE-SEM مدل Sigma 300 در علوم زیستی
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300 در مطالعات زمین شناسی و معدن
- استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM مدل Sigma 300 در مطالعات منابع طبیعی
- استفاده از میکروسکوپ FE-SEM مدل Sigma 300 در کاربردهای صنعتی
فروش میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM مدل Sigma 300 ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
مشخصات فنی میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300
|
مشخصه
|
توضیحات
|
|
منبع الکترون میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM
|
Schottky Thermal Field Emitter
|
|
رزولوشن میکروسکوپ الکترونی FE-SEM
|
1.0 nm at 30 kV (STEM)
1.0 nm at 15 Kv
1.6 nm at 1 kV
2.0 nm at 30 kV (VP Mode)
|
|
دتکتور بازگشتی (BSD)میکروسکوپ FE-SEM
|
aBSD / HDBSD
|
|
حداکثر سرعت اسکن میکروسکپ الکترونی روبشی FE-SEM
|
50 ns/pixel
|
|
ولتاژ شتاب دهنده میکروسکپ الکترونی FE-SEM
|
0.02 – 30 kV
|
|
بزرگ نمایی میکروسکپ FE-SEM
|
10× – 1,000,000×
|
|
جریان پروب میکروسکوپ الکترونی روبشی FESEM
|
3 pA - 20 nA (100 nA optional)
|
|
ابعاد تصویر میکروسکوپ الکترونی FESEM
|
32 k × 24 k pixels
|
|
پورت های میکروسکوپ FESEM
|
10
|
|
پورت های EDS میکروسکپ الکترونی روبشی FESEM
|
2 (1 dedicated port)
|
|
خلاء بالای میکروسکپ الکترونی FESEM
|
Yes
|
|
فشار متغیر میکروسکپ FESEM
|
10-133 Pa
|
|
نوع استیج میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FE-SEM
|
5 axis comp centric stage
|
|
میزان حرکت بر روی استیج میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی FESEM
|
X= 125 mm
Y= 125 mm
Z= 50 mm
T= -10 to +90 degrees
R= 360° Continuous
|
|
دتکتور میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM
|
Inlens SE Detector
ETSE Detector
|
فروش میکروسکوپ الکترونی FE-SEM مدل Sigma 300 ساخت شرکت ZEISS کشور آلمان توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.