مشخصات کلی

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

  • مدل : S-3700N
  • شرکت سازنده : Hitachi
  • کشور سازنده : ژاپن

میکروسکوپ الکترونی روبشی Scanning Electron Microscope مدل S-3700N ساخت شرکت Hitachi کشور ژاپن می باشد . میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N ابزار کاملی است که از آن جهت بررسی مورفولوژی و توپولوژی مواد، قطعات بالک، شیشه های لایه نازک و نانو ذرات در مراکز تحقیقاتی و صنعتی استفاده می شود. میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700Nساخت شرکت Hitachi با منابع الکترون و آشکارساز مناسب قابلیت تصویربرداری عالی و کارایی بالا می باشد . میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N ساخت شرکت Hitachi دارای محفظه بزرگی برای قرارگیری نمونه می باشد و همین امر موجب قابلیت قرار دادن نمونه ها در سایز های مختلف ( نمونه با قطر 300 میلی متر و ارتفاع 10 میلی متر ) را ایجاد می کند. میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N ، مطمئن برای انجام فرآیند آنالیز در هر آزمایشگاه می باشد.

معرفی محصول

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N ، ویژگی هایی همچون سیستم‌های تشخیص سیگنال عالی و نیز جهت تصویربرداری به صورت بی نظیر را دار می باشد . میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N برای محدوده  وسیعی از کاربردها شامل نمونه های بیولوژیکی، مواد پیشرفته و نانو مواد طراحی شده و برای کارهای تحقیقاتی و آزمایشگاهی و صنعتی بسیار مناسب است. میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N دارای یک آدتکتور الکترون ثانویه ( SE )، یک دتکتور الکترون برگشتی ( BSE ) و یک حالت متغیر فشار ( VP ) می باشد.

در میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N ، اکثر نمونه ها را در حالت طبیعی یا در شرایط محیطی مرطوب بدون نیاز به پوشش فلزی قابل مشاهده می سازد. میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N دارای پورت های جانبی برای پشتیبانی از سایر برنامه ها همچون EDX, WDS, EBSD و سیستم خنک کننده می باشد.

 

  • فیلامنت تنگستن (W) حرارتی میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N با قابلیت هم مرکزشوندگی و خود تنظیم شوندگی (ABS).
  • تنظیم خودکار پرتو (ABS) با قابلیت بهینه سازی خودکار فیلامنت و محور پرتو.
  • دیافراگم های یکپارچه شده ، همه دیافراگم های ثابت را می توان توسط کاربر برای دسترسی آسان قابل جایگزینی است.
  • بایاس Quad جریان انتشار قوی نیز در ولتاژ های شتاب دهنده پایین را ایجاد می کند.
  • تنظیم دیافراگم شیئی برای بهینه سازی الکترونیکی پرتو (AAA).
  • لنزهای شیئی برای رزولوشن بالا حتی در انرژی پرتوهای کم نیز بهینه شده است.

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

ویژگی ها

ویژگی هایمیکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N دارای محفظه فوق العاده بزرگ جهت قرار گیری نمونه ها در سایز های مختلف ( نمونه با قطر 300 میلی متر و ارتفاع 10 میلی متر ) و تجهیزات جانبی همچون EDS,WDS,EBSD می باشد.  یک استیج موتوری 5 محوری دارای یک سیستم تصویربرداری و حافظه عالی است.

کیفیت تصویر بی نظیر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N

حسگر نیمه هادی قوی دتکتور الکترون های برگشتی (BSE) میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N حاوی عملکرد اسکن را سریعتر انجام داده و باعث می شود که حیطه وسیعی از نمونه های بزرگ به راحتی ثبت شود.

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N به همراه یک پمپ مولکولی توربو به عنوان تجهیزات استاندارد همراه هست و به دلیل کاهش رطوبت منجر به کاهش آلودگی نمونه می شود . برخلاف پمپ های معمولی نیازی به پمپ آبی جهت کاهش گرما ندارد و در مصرف آب و انرژی نیز صرفه جویی می شود.

رابط کاربری ساده و تصویر برداری سریع و اتوماتیک میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N ، قابلیت ثبت و عملکرد بهینه سازی تصاویر به صورت اتوماتیک با تراکم پیکسل بالا، ثبت تصاویر در زمان واقعی به صورت کامل و نیز دارای رابط کاربری ساده و طراحی گرافیکی می باشد.

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N دارای قابلیت نمایش تصاویر از دو آشکارساز را به صورت همزمان دارا می باشد.

دتکتور فشار فوق متغیر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N ، قابلیت ثبت تصاویر در ولتاژهای کم و خلا پایین را دارامی باشد و نمونه های نارسانا را بدون نیاز به پوشش هادی ( فلزی ) به راحتی تصویر برداری میکند.

کاربردها

کاربردهای میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N

  1. بررسی نمونه‌هایی که برای متالوگرافی آماده شده‌اند، بسیار بیشتر از میکروسکوپ نوری قادر به بزرگ نمایی می باشد.
  2. بررسی مقاطع شکست و سطوحی که حکاکی عمیق شده‌اند، مستلزم عمق میدانی بسیار بزرگتر از حد میکروسکوپ نوری می باشد. 
  3. ارزیابی کریستالوگرافی همچون دانه‌ها، فازهای رسوبی و دندریت‌ها بر روی سطوح نمونه
  4. شناسایی مشخصات شیمیایی اجزا به ابعاد چندمیکرون روی سطح نمونه‌ها، برای مثال،‌ آخال‌ها، فازهای رسوبی و پلیسه‌های سایش 
  5. ارزیابی گرادیان ترکیب شیمیایی بر روی سطح نمونه‌ها در فاصله‌ای به اندازه µm1، بررسی قطعات نیمه ‌هادی برای آنالیز شکست، کنترل عملکرد و تأیید طراحی مورد استفاده قرار میگیرد .

نمونه هایی از کاربردهایمیکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N

  • نیمه هادی ها

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM 

  • Sample: IC on a printed circuit board

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM 

  • Sample: Grinding disc 

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

مشخصات فنی

مشخصات فنی میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل S-3700N

مشخصه

توضیح

رزولوشن در تصویربرداری SE High vacuum mode میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

3.0nm @ 30Kv

10nm @ 3kV

رزولوشن در تصویربرداری BSE Low vacuum mode

4.0nm @ 30kV

ولتاژ شتاب دهنده میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

0.3-30kV

بزرگنمایی میکروسکپ الکترونی روبشی SEM

5x - 300,000x

استیج نمونه (X,Y Axis) میکروسکوپ الکترونی SEM

150mm x 110mm

حداکثر اندازه نمونه میکروسکپ الکترونی SEM

300mm dia

حداکثر ناحیه قابل مشاهده میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

(203mm dia (with R

حداکثر ارتفاع نمونه میکروسکوپ روبشی SEM

(110mm (WD=10mm

کنترل استیج میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

Computer eucentric stage with 5-axes motorization

شیب نمونه میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

-20/+90 degrees

 

دانلودها

دانلود کاتالوگ میکروسکوپ الکترونی روبشی دانلود کاتالوگ
دانلود کاتالوگ میکروسکوپ الکترونی روبشی دانلود کاتالوگ میکروسکوپ الکترونی روبشی

محصولات مرتبط

ارسال نظر
عنوان نظر :
نام شما :
ایمیل :
10 / 10
از 1 کاربر