روش طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF به دلیل سرعت بالا، دقت زیاد و استقلال از وابستگی به شخص آنالیز کننده، جایگزین مناسبی برای سایر روش های آنالیز شیمیایی در شناسایی مواد است. سرعت بالای آنالیز برای تنظیم ترکیب؛ و قرار گرفتن عنصرهای موجود در نمونه در گستره ی کوچک و مشخص، استفاده از روش طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF را سودمند کرده است. زیرا محدود بودن عناصر موجود در نمونه مجهول و گستره تغییر آنها، باعث می شود که بتوان از منحنی های کالیبراسیون با اطمینان بیشتری استفاده کرد.
روش طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF به عنوان مکمل مطالعات کانی شناسی و متالوگرافی در بررسی‌های باستان‌شناسی و حفاظت از آثار استفاده می شود. در لایه های نازک، رابطه میان شدت، ترکیب و ضخامت از قوانین تئوری محاسبه شده اند که از روش طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF می توان برای تعیین دقیق ترکیب و ضخامت لایه ی نازک استفاده کرد.
محصولات طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XD-8010 با استفاده از منبع اشعه ایکس منحصر به فرد، تحریک ساختار نمونه، سیستم تشخیص، غنی سازی اتوماتیک، سیستم سیم پیچ اتوماتیک و سایر فن آوری های اصلی به تجزیه و تحلیل نمونه پرداخته و نتایج حاصل را به صورت گزارش های مناسب و قابل اطمینان ارائه می دهد.