دتکتور آنالیز فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX با نرخ شمارش بالا 150,000cps و استیج بزرگ، می تواند حداکثر مساحتی به میزان 250mm x 200 mm را با سرعت بالا نقشه برداری کند. بعنوان مثال هنگامی نقشه برداری از یک ناحیه 100mm x 100 mm آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX می تواند موقعیت و محتوای سرب را فقط در چند دقیقه شناسایی و مشخص کند. همچنین دتکتور آنالیز کننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX نرخ شمارشی 15 برابر بیشتر از سایر محصولات XRF دارد که راندمان اندازه گیری را بهبود می بخشد. علاوه بر این، آشکارساز طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX نیازی به LN2ندارد در نتیجه عملکرد ایمنی تری دارد.
آنالایزر فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA6000VX با استفاده از یک اتوسمپلر، قادر است حداکثر 500 نقطه را شناسایی و بطور متوالی اندازه گیری کند. بنابراین ، اندازه گیری نمونه های بزرگ توسط آنالیزکننده فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA6000VX را می توان با توان عملیاتی بالا و حداقل دخالت کاربر انجام داد.
طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA6000VX قادر به اندازه گیری ضخامت پوشش ها از جمله فیلم های بسیار نازک طلا می باشد. همچنین آنالیز مواد خطرناک مانند سرب در آبکاری نیز می تواند همزمان با اندازه گیری ضخامت پوشش توسط آنالایزر فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA6000VX انجام شود. با استفاده از آنالیز کننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX می توان غلظت مواد خطرناک در لحیم کاری بدون سرب، پوشش قلع قالب های سربی و پوشش دهی نیکل الکترولس را تعیین کرد.
طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX مواد محدود RoHS موجود در رزین و فلزات را با حساسیت بالا به طور موثر اندازه گیری می کند. همچنین آنالایزر XRF مدل EA6000VX می تواند نواحی از نمونه های با شکل هندسی پیچیده را نیز اندازه گیری کند.
آپشن He Purge آنالیزکننده XRF مدل EA6000VX ، تجزیه و تحلیل عناصر سبک که با Na شروع می شود را امکان پذیر می سازد و تجزیه و تحلیل پایدار و مقرون به صرفه ای را ارائه می دهد. با استفاده از طیف سنج XRF مدل EA6000VX می توان تصاویر مختلفی را از عناصر مختلف مانند سرب بر روی بوردهای الکترونیکی بدون جداکردن قطعات یا حتی دانستن ساختار داخلی تجهیزات الکترونیکی بدست آورد. با استفاده از تصاویر اشعه ایکس می توان اطلاعات زیادی را درباره ساختار و اجزای داخلی تجهیزات الکترونیکی کسب کرد.
آنالیز فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX با عملکرد نقشه برداری با سرعت بالا، قادر به شناسایی و مکان یابی آلاینده های فلزی کوچک در محدوده اندازه ده ها میکرومتر برای یک منطقه اندازه گیری گسترده (حداکثر 250 میلی متر × 200 میلی متر) است. مقدار کم یا جزئی آلاینده های موجود در مواد آلی از جمله رزین نیز با استفاده از آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX قابل تشخیص است.
طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX فاصله بین نمونه و آشکارساز را به طور خودکار تنظیم می کند تا اپراتور بتواند به راحتی نمونه های با اشکال پیچیده را اندازه گیری کند. در صورت تنظیم دستی ، مکانیزم پیشگیری از برخورد نمونه از آسیب های نمونه جلوگیری می کند.
فروش آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX ساخت شرکت Hitachi کشور ژاپن توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
ویژگی های آنالیز فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX
- نقشه برداری با سرعت بالای آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX
- · دتکتور آنالیز کننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX با نرخ شمارش بالا بدون نیاز به LN2
- اندازه گیری های متوالی چند نقطه ای با استفاده از طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA6000VX
- اندازه گیری ضخامت پوشش ها با استفاده از آنالیزکننده فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA6000VX
- قابلیت ضخامت پوشش سطوح میکروسکوپی توسط آنالایزر فلورسانس پرتو ایکس XRF مدل EA6000VX
- بازرسی RoHSبا استفاده از آنالیزکننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX
- قابلیت اندازه گیری عناصر سبک توسط آنالایزر XRF مدل EA6000VX
فروش آنالیزکننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX ساخت شرکت Hitachi کشور ژاپن توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
کاربردهای آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX
طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX مجهز به عملکرد نقشه برداری با سرعت بالا ، امکان اندازه گیری پیچیده را فراهم می کند که برای تجزیه و تحلیل های معمولی دشوار بوده است. آنالیزکننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX مطابق با الزاماتی مانند اندازه گیری مناطق میکروسکوپی بدون جدا کردن اجزا و مدیریت مواد خطرناک در تمام بورد است.
فروش طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX ساخت شرکت Hitachi کشور ژاپن توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.
مشخصات فنی آنالیز کننده فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX
|
مشخصه
|
توضیحات
|
|
عناصر
|
Atomic nos. 12 (Mg) to 92 (U)
*Atomic nos. when using helium purge 11 (Na) to 92 (U)
|
|
حالت نمونه آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
Solid / Powder / Liquid
|
|
منبع اشعه ایکس آنالیزکننده فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
Air-cooled X-ray tube (W target)
Voltage: 15 kV, 30 kV, 40 kV, 50 kV
Current: 20 to 1000 µA
|
|
جهت اشعه ایکس آنالیز کننده فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
Top-down Irradiation
|
|
دتکتورهای طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
Vortex® (SDD) *No liquid nitrogen required
|
|
ناحیه آنالیز طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
Square 0.2 mm, 0.5 mm, 1.2 mm, 3 mm
Electric switching
|
|
مشاهده نمونه آنالیز فلورسانس اشعه ایکس XRF
|
High resolution CCD camera, 2 system
|
|
محفظه آنالایزر XRF
|
580(W) × 450(D) × 150(H) mm
Both point analysis and mapping for entire 250(X) × 200(Y) mm
|
|
فیلتر آنالیزکننده XRF
|
6 mode automatic switching
|
|
کنترلر آنالیز کننده XRF
|
Desktop PC and 19" LCD monitor
|
|
عملکرد نقشه برداری طیف سنج XRF
|
Align with sample image, Area integrated spectral display, Quantitative integrated function
|
|
عملکرد کیفی طیف سنجی XRF
|
Spectrum measurement, Auto-ID, Comparison display
|
|
عملکرد کمی آنالیز XRF
|
Bulk CAL, Bulk FP, Film CAL, Film FP
|
|
پردازش داده آنالایزر XRF
|
Microsoft Excel, Microsoft Word
|
|
عملکرد ایمنی آنالیزکننده XRF
|
Door interlock, Crash protection, Instrument seld-diagnosis
|
|
برق مورد نیاز آنالیز کننده XRF
|
AC100 V to 240 V ±10%, 750 VA max.
|
فروش طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF مدل EA6000VX ساخت شرکت Hitachi کشور ژاپن توسط شرکت پرتوشار انجام می شود.