|
مشخصه
|
توضیحات
|
|
طراحی نوری اسپکتروفتومتر UV-Vis
|
Double-beam with sample and reference cuvette positions; Application Focused Beam Geometry; Czerny-Turner Monochromator
|
|
پهنای باند طیفی اسپکترومتر UV-Vis
|
Variable: 1 nm; 2 nm;
AFBG Microcell optimized;
AFBG Fiber optic optimized;
AFBG Materials optimized
|
|
منبع نور اسپکتروسکوپی UV-Vis
|
Xenon Flash Lamp: 5 years (3 years guaranteed)
|
|
دتکتور طیف سنجی UV-Vis
|
Dual Silicon Photodiodes
|
|
مود اسکن اسپکتروفتومتر مرئی-ماوراءبنفش
|
Absorbance, % Transmittance, % Reflectance, Kubelka-Munk, log (1/R), log (Abs), Abs*Factor, Intensity
|
|
رزولوشن اسپکتروسکوپی مرئی-فرابنفش
|
> 1.6 (peak-to-valley ratio; toluene in hexane)
|
|
محدوده طول موج اسپکتروسکوپی مرئی- ماوراءبنفش
|
190 – 1100 nm
|
|
دقت طول موج اسپکتروفتومتر UV- Visible
|
± 0.8 nm (full range 190 to 1100 nm)
± 0.5 nm (546.11 nm mercury line)
|
|
تکرارپذیری طول موج اسپکترومتر UV- Visible
|
≤ 0.1 nm (546.11 nm mercury line, SD of 10 measurements)
|
|
سرعت اسکن طول موج اسپکتروسکوپی UV- Visible
|
< 1 to 6000 nm/min; variable
|
|
محدوده فتومتریک طیف سنجی UV- Visible
|
> 3.5 A
|
|
نمایش فتومتریک طیف سنج UV- Visible
|
-0.3 to 4.0 A
|
|
دقت دستگاه اسپکترومتر UV-Vis
|
0.5 A: ± 0.004 A
1A: ± 0.006 A
2A: ± 0.010 A
Measured at 440 nm using neutral density filters traceable to NIST/NPL
|
|
دقت (Sealed Solutions ± 0.01 A (EP/BP/TGA
|
± 0.010 A (60 mg/L K2Cr2O7)
|
|
نویز اسپکتروفتومتر UV-Vis
|
0A: ≤ 0.00015 A
1A: ≤ 0.00050 A
2A: ≤ 0.00080 A
260 nm, 1.0 nm SBW, RMS
|
|
دریفت اسپکتروفتومتر UV-Vis
|
< 0.0005 Abs/hour
500 nm, 2.0 nm SBW, 2 hr warm-up
|
|
پراکندگی نور اسپکتروسکوپی UV-Vis
|
KCl, 198 nm: ≤ 1% T
NaI, 220 nm: ≤ 0.05% T
NaNO2,340 nm: < 0.05% T
|
|
مسطح بودن بیس لاین اسپکتروفتومتر UV- Visible
|
± 0.0010 A
200 – 800 nm, 1.0 nm SBW, smoothing
|
|
ابعاد اسپکترومتر UV- Visible
|
62.2 cm L × 48.6 cm W × 27.9 cm H (24" L × 19" W × 11" H)
|
|
وزن اسپکتروسکوپیUV- Visible
|
14.4 kg
|