آنالیز پراش اشعه ایکس XRD

آنالیز پراش اشعه ایکس XRD تکنیکی است که در علم مواد برای تعیین ساختار کرستالوگرافی یک ماده استفاده می شود. آنالیز تفرق اشعه ایکس XRD پس از تابش پرتو ایکس به ماده، با اندازه گیری شدت و زاویه پراکندگی اشعه ایکس زمانی که ماده را ترک می کند، کار می کند. یک کاربرد اصلی آنالیز پراش پرتو ایکس XRD شناسایی مواد بر اساس الگوی پراش آن ها است. علاوه بر شناسایی فاز ، آنالیز تفرق پرتو ایکس XRD همچنین به دلیل تنش ها و نقص های داخلی، اطلاعاتی در مورد چگونگی انحراف ساختار واقعی از ساختار ایده آل ارائه می دهد. بلورها آرایه های منظمی از اتم ها هستند ، در حالی که اشعه X را می توان امواج تابش الکترومغناطیسی دانست. اتم های کریستال ، اشعه ایکس برخورد کرده را از طریق تعامل با الکترون های اتم پراکنده می کند که این پدیده به عنوان پراکندگی الاستیک شناخته می شود. یک آرایه پراکنده منظم یک آرایه کروی منظم تولید می کند. در اکثر جهات ، این امواج یکدیگر را از طریق تداخل مخرب لغو می کنند ، با این حال ، آنها به طور سازنده در چند جهت خاص تقویت می شوند ، همانطور که توسط قانون براگ تعیین شده است:

2dsinθ = nλ

جایی که d فاصله بین صفحات پراش باشد ، θ زاویه برخورد است ، n یک عدد صحیح است و λ طول موج پرتو است. جهت های خاص به صورت لکه هایی در الگوی پراش به نام بازتاب ظاهر می شوند. در نتیجه ، الگوهای پراش اشعه X در نتیجه برخورد امواج الکترومغناطیسی با یک آرایه منظم از پراکنده ها ایجاد می شود. از اشعه ایکس برای تولید الگوی پراش استفاده می شود زیرا طول موج λ آنها اغلب با همان ترتیب فاصله ، d ، بین صفحات بلوری (1-100 آنگستروم) برابر است.

برای آشنایی بیشتر با آنالیز پراش اشعه ایکس XRD ویدئو زیر را مشاهده فرمایید.